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電力電容器介質(zhì)損耗因素測試

  • 時(shí)間:2022-03-17 14:50:10
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電容器介質(zhì)損耗因數的測試目的

電容器介質(zhì)損耗因數和電容器絕緣介質(zhì)的種類(lèi)、厚度、浸漬劑的特性以及制造工藝有關(guān)。電容器tanδ的測量能靈敏地反映電容器絕緣介質(zhì)受潮、擊穿等絕緣缺陷,對制造過(guò)程中真空處理和剩余壓力、引線(xiàn)端子焊接不良、有毛刺、鋁箔或膜紙不平整等工藝的問(wèn)題也有較靈敏的反應,所以說(shuō)電容器介質(zhì)損耗因數是電容器絕緣優(yōu)劣的重要指標。

耦合電容器測試介質(zhì)損耗因數的測試

測試接線(xiàn)

一般采用正接線(xiàn),分析比較時(shí)采用反接線(xiàn)測量。正接線(xiàn)測試接線(xiàn)如圖5-4(a)所示,反接線(xiàn)測試接線(xiàn)如圖5-4(b)所示。采用正接線(xiàn)測量時(shí),耦合電容器高壓電極接測試電壓,法蘭接地,耦合電容器低壓電極小套管接電橋Cx端,若被試品沒(méi)有小套管, C,端與法蘭連接并墊絕緣物測量。采用反接線(xiàn)時(shí),耦合電容器高壓電極接電橋C,端法蘭和小套管接地。

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測試步驟

采用正接線(xiàn)測量時(shí),先將被試電容器對地放電并接地,拆除被試電容器對外所有一次連接線(xiàn),電容器法蘭接地,打開(kāi)小套管接地線(xiàn)并與電橋C,端相連接,高壓引線(xiàn)接至電容器高壓電極,取下接地線(xiàn),檢查接線(xiàn)無(wú)誤后,通知其他人員遠離被試品并監護。合上試驗電源,從零開(kāi)始升壓至測試電壓進(jìn)行測試,測試電壓為10kV。測試完畢后先將電壓降到零,然后讀取測量數據,切斷電源,對被試品進(jìn)行放電并接地,拆除測試引線(xiàn)。特別注意小套管接地引線(xiàn)的恢復。

采用反接線(xiàn)測量時(shí),電橋Cx端接電容器高壓電極,低壓電極接地。測量下節耦合電容器時(shí)下法蘭和小套管接地,采用反接線(xiàn)測量時(shí),橋體接地應直接與被試品接地點(diǎn)直接連接,測試電壓為10kV。

斷路器電容器介質(zhì)損耗因數的測試

測試接線(xiàn)

通常采用正接線(xiàn),如圖5-5 所示,測量時(shí)被試電容器一端接測試電壓,另一端接電橋Cx端。如斷口電容器在安裝前測試,應注意測量端要墊絕緣物。

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測試步驟

1、交接時(shí)斷口電容器的tanδ 應在安裝前測試,主要是避免斷路器滅弧室的影響。測試前先將被試電容器對地放電并接地,高壓引線(xiàn)接至斷路器電容器一端電極,電容器另一端接電橋Cx端。取下接地線(xiàn),檢查接線(xiàn)無(wú)誤后,通知其他人員遠離被試電容器。合上試驗電源,從零開(kāi)始升壓至測試電壓進(jìn)行測試,測試電壓為10kV。測試完畢后將電壓降到零后讀取測量數據,然后切斷電源,對被試品進(jìn)行放電并接地

2、預防性試驗時(shí),如果測試數據偏大,可將電容器拆下進(jìn)行測試。

電容器介質(zhì)損耗因數測試注意事項

測試電容器介質(zhì)損耗因數的注意事項有:

1、測試應在良好的天氣下進(jìn)行,電容器本身及環(huán)境溫度不低于+5℃,電容器表面臟污、潮濕時(shí),應采取擦拭和烘干等措施減少表面泄漏電流的影響,必要時(shí)加屏蔽環(huán)屏蔽表面泄漏電流。

2、采用反接線(xiàn)測量時(shí),電橋本體用截面較大的裸銅導線(xiàn)可靠接地,接地點(diǎn)應直接與被試品接地點(diǎn)直接連接

3、接線(xiàn)緊湊、布置合理,注意電場(chǎng)、磁場(chǎng)干擾。測試現場(chǎng)如有電場(chǎng)或磁場(chǎng)干擾應采用移相法、倒相法或變頻法等抗干擾法進(jìn)行測量。

4、高壓引線(xiàn)連接應緊密牢靠,否則接觸電阻會(huì )對膜紙復合絕緣電容器 tanδ帶來(lái)誤差。

5、測試前必須檢查電容器是否漏油。如漏油,則電容器應退出運行,不必進(jìn)行測試。

6、電容器 tanδ測量通常采用正接線(xiàn)。如果檢查瓷套絕緣狀況,可使用反接線(xiàn)測試,反接線(xiàn)能反映瓷套裂紋及內壁受潮的絕緣缺陷。

例如

一臺型號為 OY-110/√3-0.01的耦合電容器,原始tanδ測試數據是0.2%,電容量0.00998μF,測試環(huán)境溫度 29℃,本次測試數據 0.3%,電容量0.011μF,測試環(huán)境溫度30℃,tanδ增大,電容量增長(cháng)明顯,仔細檢查發(fā)現耦合電容器上法蘭與瓷套結合處滲油。分析認為耦合電容器密封不嚴進(jìn)水受潮,導致絕緣劣化。因為良好的油紙絕緣的tan在10~30℃范圍內是穩定的或變化很小的,只有絕緣劣化, tanδ變化才會(huì )明顯,電容量增大顯著(zhù),說(shuō)明電容器進(jìn)水受潮,因為水的介電系數比電容器油要高。

7、電容器內部元件為串聯(lián)、并聯(lián)結構,特別是耦合電容器等電容器串聯(lián)元件較多,,別元件短路、開(kāi)路或劣化,tanδ反應并不是很靈敏,還要結合電容量的變化綜合判斷。